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      賽可世界樶高分辨率X-eye NF120介紹
      

      點擊次數：1960 更新時間：2021-11-11
      

      

      賽可世界樶高分辨率X-eye NF120概述
      納米-focus X射線檢測設備
      適應于亞微米單位不良檢測要求的半導體封裝，晶片領域檢測(WLP)，配備400納米級的納米-focus 射線管的設備。
      用精密的定位軸可將不良位置準確的檢查出來。
      配備3D CT模塊時可進行單層分析，通過晶片方向盤的安裝，對晶片樣品進行自動解讀。
      Wafer Bump Void
      Wafer TSV Void
      賽可世界樶高分辨率X-eye NF120特點
      ★ 為 Wafer Lebel Packaging檢測的非破壞分析設備
      ★ 提供Dual Type的CT，獲得最清影像
      ★ TSV, Micro Bump, Pattern

      

      







  
	 
      

      

      

      


















      





 
  


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